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光武 徹*; 秋本 肇; 三澤 丈治; 呉田 昌俊*; 勝山 幸三*; 永峯 剛*; 松元 愼一郎*
Proceedings of 4th World Congress on Industrial Process Tomography, Vol.1, p.348 - 353, 2005/00
稠密格子模擬7本バンドル伝熱試験体の内部構造を高エネルギーX線CTで撮像し、ヒータロッドの配列を定量的に測定した。その結果、ヒータロッド中心位置の変位は最大0.5mmであった。その結果に基づいて、ヒータロッド周りの流路形状を計算し、サブチャンネル解析コードに入力して除熱限界出力を予測した。その結果、ヒータロッド位置の及ぼす限界出力計算値への影響は小さく、限界出力の予測誤差はほとんど減少しなかった。
大岩 浩司; 村井 祐一*; 佐々木 俊男*; 吉川 信治; 山本 富士夫*
Proceedings of 4th World Congress on Industrial Process Tomography, Vol.1, p.428 - 433, 2005/00
減り駆るコイル管内気液二相流を画像解析する6方向バックライトCT解析システムを構築した。実験結果より、コイルの遠心力によって生じる二次流れによって気体スラグ上壁部において重力に反して壁面を被う液膜の層が生じていることがわかった。また、この層は気液の流量から計算される見かけの平均速度が速い条件で現れることが明らかになった。
永江 勇二; 高屋 茂
Proceedings of 4th World Congress on Industrial Process Tomography, Vol.1, p.504 - 509, 2005/00
長寿命プラントの実現化や現プラントの信頼性向上のために、磁気特性変化に基づく損傷検出技術開発を行っている。本研究では、773Kあるいは823Kでクリープ破断したSUS304鋼およびSUS316FR鋼の漏えい磁束密度を測定した結果を報告する。FBRの運転温度である800K前後のクリープ損傷においても、漏えい磁束密度が増加し、磁気変化に基づいて損傷を検知可能であることが分かった。